傾斜エックス線照射により分子欠陥を導入した強相関分子性導体の赤外反射スペクトル測定
傾斜エックス線照射により分子欠陥を導入した強相関分子性導体の赤外反射スペクトル測定
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斜X射线照射引入分子缺陷的强相关分子导体的红外反射光谱测量
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
佐々木孝彦
中科院分区：
文献类型：
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作者：
佐藤直道;桐野友輝;井口敏;古川哲也;杉浦栞理;米山直樹A;池本夕佳;森脇太郎;佐々木孝彦
