Local Barrier Height measurements on p-type III-V semiconductor surface
Local Barrier Height measurements on p-type III-V semiconductor surface
复制标题
p 型 III-V 半导体表面的局部势垒高度测量
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Akira Sakai
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kengo Kobayasi;Shu Kurokawa;Akira Sakai
