Electrical Test for Open Defects in CMOS ICs by Injected Charge

Electrical Test for Open Defects in CMOS ICs by Injected Charge
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通过注入电荷对 CMOS IC 中的开路缺陷进行电气测试

DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
Proc. of International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications 2015
影响因子：
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通讯作者：
Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
Daisuke Suga;Hiroyuki Yotsuyanagi;Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume

文献摘要

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