Direct observation of vacancy in silicon using sub-Kelvin ultrasonic measurements
Direct observation of vacancy in silicon using sub-Kelvin ultrasonic measurements
复制标题
使用亚开尔文超声波测量直接观察硅中的空位
DOI：
--
复制
发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Shintaro Nakamura
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Terutaka Goto;Hiroshi Yamada-Kaneta;Yasuhiro Saito;Yuichi Nemoto;Koji Sato;Koichi Kakimoto;Shintaro Nakamura
