Advanced nano-scale metrology for the characterization of ceramic material in the scanning electron microscope
Advanced nano-scale metrology for the characterization of ceramic material in the scanning electron microscope
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用于在扫描电子显微镜中表征陶瓷材料的先进纳米级计量学
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
W. Zhu
中科院分区：
文献类型：
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作者：
G. Pezzotti;A. Matsutani;M. C. Munisso;W. Zhu
