M.Yamaguchi et al.: "Electron microscopy of defects and their properties in ReSi_2" Phil.Mag.A. (発表予定).
M.Yamaguchi et al.: "Electron microscopy of defects and their properties in ReSi_2" Phil.Mag.A. (発表予定).
复制标题
M.Yamaguchi 等人：“ReSi_2 中的缺陷及其特性的电子显微镜”Phil.Mag.A（待提交）。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
