Identifying Radiation-Induced Micro-SEFIs in SRAM FPGAs
Identifying Radiation-Induced Micro-SEFIs in SRAM FPGAs
复制标题
识别 SRAM FPGA 中辐射诱发的微型 SEFI
DOI：
10.1109/tns.2021.3108572
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发表时间：
2021
影响因子：
1.8
通讯作者：
Wirthlin, Michael
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Perez-Celis, Andres;Thurlow, Corbin;Wirthlin, Michael
