Energy Dispersive X-ray Spectroscopic Analysis of Al-Cu-Fe Quasicrystalline Thin Film Layer
Energy Dispersive X-ray Spectroscopic Analysis of Al-Cu-Fe Quasicrystalline Thin Film Layer
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Al-Cu-Fe准晶薄膜层的能量色散X射线光谱分析
DOI：
10.1017/s1431927619009723
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发表时间：
2019
影响因子：
2.8
通讯作者：
Li, Chunfei
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Canter, Andrew;Smith, Kira;Baker, Andrew;Hampikian, Helen;Li, Chunfei
