Analysis of cancer risk-associated genetic variations by using semiconductor-based next-gen sequencings in J-MICC study
Analysis of cancer risk-associated genetic variations by using semiconductor-based next-gen sequencings in J-MICC study
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J-MICC 研究中使用基于半导体的下一代测序分析癌症风险相关的遗传变异
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Haruo Mikami
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yohko Nakamura;Yoshiaki Maru;Yasutoshi Tatsumi;Sana Yokoi;Miki Ohira;Yuki Nakamura;Kimiko Takayama;Junko Inada;Jin Katayama;Hiroki Nagase;Haruo Mikami
