量子トモグラフィにおける測定器系の性能評価-大偏差的視点から
量子トモグラフィにおける測定器系の性能評価-大偏差的視点から
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量子层析成像测量仪器系统性能评估——从大偏差角度
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
村尾美緒
中科院分区：
文献类型：
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作者：
杉山太香典;Peter S.Turner;村尾美緒
