Mode-coupling effects in NEGF device simulation

Mode-coupling effects in NEGF device simulation
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NEGF 器件模拟中的模式耦合效应

DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
Japanese Journal of Applied Physics 44・4B(in press)
影响因子：
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通讯作者：
Nobuya Mori
Nobuya Mori
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
Hiroshi Takeda;Nobuya Mori

文献摘要

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