Explorations of sequential ATPG using Boolean satisfiability

Explorations of sequential ATPG using Boolean satisfiability
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使用布尔可满足性探索顺序 ATPG

DOI：
10.1109/vtest.1993.313303
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发表时间：
1993
期刊：
Digest of Papers Eleventh Annual 1993 IEEE VLSI Test Symposium
影响因子：
--
通讯作者：
T. Larrabee
T. Larrabee
中科院分区：
--
文献类型：
--
作者：
H. Konuk;T. Larrabee

文献摘要

被引文献

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提出了一种基于布尔可满足性的顺序测试生成方法。该方法产生接近最小的测试大小。作者讨论了布尔可满足性所提供的灵活性，以扩展故障模型的现实故障。使用ISCAS-89基准电路的实验结果和以前发表的结果进行比较。&lt;<ETX>&gt;
Presents a sequential test generation method based on Boolean satisfiability. The method produces near-minimal test sizes. The authors discuss the flexibility provided by Boolean satisfiability to extend the fault model to realistic faults. Experimental results using ISCAS-89 benchmark circuits and comparisons with previously published results are presented.<<ETX>>