Radiation thermometry of semitransparent silicon wafers near room temperature

Radiation thermometry of semitransparent silicon wafers near room temperature
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近室温半透明硅片的辐射测温

DOI:
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发表时间:
2006
期刊:
Proc. of SPIE 6205 (28^<th> Thermosense)
影响因子:
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通讯作者:
Y.IKEDA
Y.IKEDA
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
T.IUCHI;Y.IKEDA

文献摘要

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