Scanning tunneling microscopy of the damage induced by ion bombardment on a graphite surface

Scanning tunneling microscopy of the damage induced by ion bombardment on a graphite surface
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扫描隧道显微镜观察离子轰击石墨表面引起的损伤

DOI:
10.1016/0304-3991(92)90337-j
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发表时间:
1992
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
J. Beauvillain
J. Beauvillain
中科院分区:
--
文献类型:
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作者:
R. Coratger;Adil Chahboun;V. Sivel;F. Ajustron;J. Beauvillain

文献摘要

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