Y.Fukano: "Time Evolution of Contact-Electrified Electron Dissipation on Silicon Oxide Surface Investigated Usig Noncontact Atomic Force Microscope" Jpn.J.Appl.Phys.Vol.33. 379-382 (1994)
Y.Fukano: "Time Evolution of Contact-Electrified Electron Dissipation on Silicon Oxide Surface Investigated Usig Noncontact Atomic Force Microscope" Jpn.J.Appl.Phys.Vol.33. 379-382 (1994)
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Y.Fukano：“使用非接触原子力显微镜研究二氧化硅表面接触带电电子耗散的时间演化”Jpn.J.Appl.Phys.Vol.33。
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