Preparation and testing of MEMS-based samples for in situ heating and biasing in the TEM/STEM
Preparation and testing of MEMS-based samples for in situ heating and biasing in the TEM/STEM
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用于 TEM/STEM 中原位加热和偏置的基于 MEMS 的样品的制备和测试
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
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通讯作者：
Macgregor TA
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Macgregor TA
