SOI検出器におけるX線損傷TID効果の軽減に関する研究
SOI検出器におけるX線損傷TID効果の軽減に関する研究
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SOI探测器中减少X射线损伤TID效应的研究
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
小貫良行
中科院分区：
文献类型：
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作者：
小野善将;小貫良行
