反応科学超高圧電子顕微鏡とナノインデントホルダーを用いたナノ構造体界面強度評価
反応科学超高圧電子顕微鏡とナノインデントホルダーを用いたナノ構造体界面強度評価
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反应科学使用超高压电子显微镜和纳米压痕支架评估纳米结构界面强度
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
田中信夫
中科院分区：
文献类型：
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作者：
荒井重勇;高橋可昌;山本悠太;近藤光;大田繁正;田中信夫
