Y.Ohno, T.Mizutani, et al.: "Temperature Distribution Measurement in Al GaN/GaN High Electron Mobility Transistors by Micro-Raman Scattering spectroscopy"Jpn.J.Appl.Phys.. 41. L452-L454 (2002)
Y.Ohno, T.Mizutani, et al.: "Temperature Distribution Measurement in Al GaN/GaN High Electron Mobility Transistors by Micro-Raman Scattering spectroscopy"Jpn.J.Appl.Phys.. 41. L452-L454 (2002)
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Y.Ohno、T.Mizutani 等：“通过微拉曼散射光谱测量 Al GaN/GaN 高电子迁移率晶体管的温度分布”Jpn.J.Appl.Phys.. 41. L452-L454 (2002)
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