極低温・高磁場STMによる表面ナノ物性計測
極低温・高磁場STMによる表面ナノ物性計測
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使用低温和高磁场 STM 测量表面纳米物理性质
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
藤田大介
中科院分区：
文献类型：
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作者：
鷺坂恵介;艸分倫子;藤田大介
