Development of a 200-nm-resolution X-ray imaging detector with a field of view of 2 mm square Thursday, April 8th, 2021 IFDEPS Virtual Thursdays 2021, Session 8, New detector projects indirect detection 4/8/
Development of a 200-nm-resolution X-ray imaging detector with a field of view of 2 mm square Thursday, April 8th, 2021 IFDEPS Virtual Thursdays 2021, Session 8, New detector projects indirect detection 4/8/
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开发视场为 2 平方毫米的 200 纳米分辨率 X 射线成像探测器 2021 年 4 月 8 日星期四 IFDEPS 2021 年虚拟星期四，第 8 场，新探测器项目间接探测 4/8/
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Takashi KAMESHIMA,Takaki HATSUI
中科院分区：
文献类型：
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作者：
濵野拳;楠本多聞;金崎真聡;小平聡;小田啓二;山内知也;Takashi KAMESHIMA,Takaki HATSUI
