Photovoltage spectroscopy of direct and indirect bandgaps of strained Ge1-xSnx thin films on a Ge/Si(001) substrate
Photovoltage spectroscopy of direct and indirect bandgaps of strained Ge1-xSnx thin films on a Ge/Si(001) substrate
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Ge/Si(001) 基底上应变 Ge1-xSnx 薄膜的直接和间接带隙的光电压光谱
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
9.4
通讯作者：
S.V. Kondratenko Yu.V. Hyrka, Yu.I. Mazur
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S.V. Kondratenko Yu.V. Hyrka, Yu.I. Mazur
