Characterization of 4H-SiC analyzed by cathodeluminescence and electron-beam induced current methods
Characterization of 4H-SiC analyzed by cathodeluminescence and electron-beam induced current methods
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通过阴极发光和电子束感应电流方法分析 4H-SiC 的表征
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
他3名
中科院分区：
文献类型：
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作者：
畑山智亮;他3名
