結像系収差補正電子顕微鏡(収差補正TEM)を駆使した微細構造解析手法の進展

結像系収差補正電子顕微鏡(収差補正TEM)を駆使した微細構造解析手法の進展
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充分利用像差校正电子显微镜(像差校正TEM)的微观结构分析方法的进展

DOI:
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发表时间:
2017
期刊:
触媒
影响因子:
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通讯作者:
山﨑 順
山﨑 順
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
奥山裕磨;杉山裕弥;平原徹;山﨑 順

文献摘要

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