Niナノ回折格子を用いた垂直入射型微小磁場検出
Niナノ回折格子を用いた垂直入射型微小磁場検出
复制标题
使用镍纳米衍射光栅进行垂直入射微磁场检测
DOI：
--
复制
发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
直井 美貴
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
高島 祐介;原口 雅宣;直井 美貴
