High-resolution scanning probe microscopy to bridge the “materials gap”
High-resolution scanning probe microscopy to bridge the “materials gap”
复制标题
高分辨率扫描探针显微镜弥合“材料差距”
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Tomoko K. Shimizu
中科院分区：
文献类型：
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作者：
中本 健太;秋元 祐太朗;岡島 敬一;Tomoko K. Shimizu
