Achromatic elemental mapping beyond the nanoscale in the transmission electron microscope.
Achromatic elemental mapping beyond the nanoscale in the transmission electron microscope.
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DOI：
10.1103/physrevlett.110.185507
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发表时间：
2013-05
影响因子：
8.6
通讯作者：
K. Urban;J. Mayer;J. Jinschek;M. J. Neish;N. Lugg;L. Allen
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Urban;J. Mayer;J. Jinschek;M. J. Neish;N. Lugg;L. Allen
新开发的消色差电子光学允许使用宽的能量窗口，使可行的能量过滤透射电子显微镜（EFTEM）在原子分辨率。在这封信中，我们展示了使用经历硅L（2，3）核壳能量损失的电子形成的EFTEM图像，其EFTEM分辨率为1.35 Å。这允许元素映射超出纳米尺度，前提是根据第一原理进行的量子力学计算与实验同步进行，以理解图像中编码的物理信息。
Newly developed achromatic electron optics allows the use of wide energy windows and makes feasible energy-filtered transmission electron microscopy (EFTEM) at atomic resolution. In this Letter we present EFTEM images formed using electrons that have undergone a silicon L(2,3) core-shell energy loss, exhibiting a resolution in EFTEM of 1.35 Å. This permits elemental mapping beyond the nanoscale provided that quantum mechanical calculations from first principles are done in tandem with the experiment to understand the physical information encoded in the images.