A low temperature scanning probe microscope using a quartz tuning fork
A low temperature scanning probe microscope using a quartz tuning fork
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使用石英音叉的低温扫描探针显微镜
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K Shirahama
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K Saitoh;K Hayashi;Y Shiba yama;K Shirahama
