Takahiro Namazu, Yoshitada Isono, Takeshi Tanaka: "Plastic Deformation of Nanometric Single Crystal Silicon Wire in AFM Bending Test at Intermediate Temperatures"Journal of Micro electro mechanical systems, IEEE/ASME, pp.-, 2002.. Vol.11, No.2. 125-135 (2
Takahiro Namazu, Yoshitada Isono, Takeshi Tanaka: "Plastic Deformation of Nanometric Single Crystal Silicon Wire in AFM Bending Test at Intermediate Temperatures"Journal of Micro electro mechanical systems, IEEE/ASME, pp.-, 2002.. Vol.11, No.2. 125-135 (2
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Takahiro Namazu、Yoshitada Isono、Takeshi Tanaka：“中间温度下 AFM 弯曲测试中纳米单晶硅线的塑性变形”微机电系统杂志，IEEE/ASME，第-页，2002 年。第 11 卷，第 1 期。
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