Analytical Stability Modeling for CMOS Latches in Low Voltage Operation
Analytical Stability Modeling for CMOS Latches in Low Voltage Operation
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低电压操作下 CMOS 锁存器的分析稳定性建模
DOI：
10.1587/transfun.e99.a.2463
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hidetoshi Onodera
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Tatsuya Kamakari;Jun Shiomi;Tohru Ishihara;Hidetoshi Onodera
