半導体ナノワイヤ歪変調バンドギャップのその場顕微評価
半導体ナノワイヤ歪変調バンドギャップのその場顕微評価
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半导体纳米线应变调制带隙的原位显微评估
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
渡辺 健太郎
中科院分区：
文献类型：
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作者：
渡辺 健太郎;中村 芳明;渡辺 健太郎，長田 貴弘，若山 裕，関口 隆史，フォルク ヤノシュ;渡辺 健太郎
