Electrical characterization of process induced effects on non-silicon devices
Electrical characterization of process induced effects on non-silicon devices
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非硅器件工艺诱发效应的电气特性
DOI：
10.1109/icicdt.2018.8399784
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Wallace, Robert M.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Young, Chadwin D.;Bolshakov, Pavel;Rodriguez-Davila, Rodolfo A.;Zhao, Peng;Khosravi, Ava;Mejia, Israel;Quevedo-Lopez, Manuel;Hinkle, Christopher L.;Wallace, Robert M.
