Near-field Polarimetry Using Scanning Probe Microscope with Sub-wavelength Aperture Cantilever
Near-field Polarimetry Using Scanning Probe Microscope with Sub-wavelength Aperture Cantilever
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使用具有亚波长孔径悬臂梁的扫描探针显微镜进行近场旋光测定
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
et al.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Tsuchiya;K.;et al.
