Observation of bit boundary in ion irradiation patterned CrPt3 using dark-field TEM
Observation of bit boundary in ion irradiation patterned CrPt3 using dark-field TEM
复制标题
使用暗场 TEM 观察离子辐照图案 CrPt3 中的位边界
DOI：
--
复制
发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
S.Iwata
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
D.Oshima;E.Suharyadi;T.Kato;S.Iwata
