Evaluation of in-vacuum imaging plate detector for x-ray diffraction microscopy
Evaluation of in-vacuum imaging plate detector for x-ray diffraction microscopy
复制标题
X 射线衍射显微镜真空成像板探测器的评估
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T.Ishikawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y.Nishino;Y.Takahashi;M.Yamamoto;T.Ishikawa
