Exit Wavefunction Reconstruction from Single Transmission Electron Micrographs with Deep Learning
Exit Wavefunction Reconstruction from Single Transmission Electron Micrographs with Deep Learning
复制标题
利用深度学习从单透射电子显微照片中重建退出波函数
DOI：
10.48550/arxiv.2001.10938
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Ede Jeffrey M.
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Ede Jeffrey M.
