Secondary electron detection in the scanning transmission electron microscope
Secondary electron detection in the scanning transmission electron microscope
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扫描透射电子显微镜中的二次电子检测
DOI：
10.1016/0304-3991(85)90091-9
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发表时间：
1985
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
D. Mcmullan
中科院分区：
文献类型：
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作者：
D. Imeson;R. Milne;S. Berger;D. Mcmullan
