放射線環境下における半導体素子の耐性評価
放射線環境下における半導体素子の耐性評価
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辐射环境下半导体器件电阻评估
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
高倉健一郎
中科院分区：
文献类型：
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作者：
吉田一真;米岡将士;高倉健一郎
