光子から半導体中の電子スピンへの量子状態転写のプロセストモグラフィ測定実験
光子から半導体中の電子スピンへの量子状態転写のプロセストモグラフィ測定実験
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半导体中光子到电子自旋量子态转移的过程层析成像测量实验
DOI:
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发表时间:
2011
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
稲垣卓弘
中科院分区:
文献类型:
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作者:
K.Takahashi;K.Sasada;Masaki Sugimoto;Haruna MATSUSHITA;Sho SHIMOMURA;Yoko ENOSAWA;Haruna MATSUSHITA;Haruna MATSUSHITA;Haruna MATSUSHITA;Haruna MATSUSHITA;稲垣卓弘;稲垣卓弘;稲垣卓弘