窒化物半導体薄膜の走査プローブ顕微鏡による微視的評価
窒化物半導体薄膜の走査プローブ顕微鏡による微視的評価
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使用扫描探针显微镜对氮化物半导体薄膜进行显微评估
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
櫻井利夫
中科院分区：
文献类型：
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作者：
高村(山田)由起子;王治涛;藤川安仁;櫻井利夫
