ふつうの結晶性基板との界面の構造解析に硬X線定在波法を適用する試み
ふつうの結晶性基板との界面の構造解析に硬X線定在波法を適用する試み
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硬X射线驻波法应用于普通晶体基体界面结构分析的尝试
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
中村将志
中科院分区：
文献类型：
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作者：
坂田修身;今井康彦;中村将志
