陽子マイクロビームプローブによるイオン誘起発光顕微分光分析 を可能にする高分解能顕微光学系の開発
陽子マイクロビームプローブによるイオン誘起発光顕微分光分析 を可能にする高分解能顕微光学系の開発
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开发高分辨率显微光学系统，可使用质子微束探针进行离子诱导发射显微光谱分析
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
神谷富裕
中科院分区：
文献类型：
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作者：
加田渉，横山彰人 ,江夏昌志;山田 尚人;佐藤隆博;神谷富裕
