X線ナノビームによる1-100反射を用いたGaNナノワイヤ側壁上m面Ga1-xInxN/GaN量子井戸の構造評価
X線ナノビームによる1-100反射を用いたGaNナノワイヤ側壁上m面Ga1-xInxN/GaN量子井戸の構造評価
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使用 X 射线纳米束 1-100 次反射对 GaN 纳米线侧壁上的 m 面 Ga1-xInxN/GaN 量子阱进行结构评估
DOI：
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发表时间：
2018
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
宮嶋 孝夫
中科院分区：
文献类型：
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作者：
近藤 剣 ;清木 良麻 ;今井 康彦;隅谷 和嗣;木村 滋2;高木 健太 ;後藤 七美 ;市川 貴登 ;今井 大地 ;上山 智 ;宮嶋 孝夫
