Md.Altaf-Ul-Amin, Satoshi Ohtake, Hideo Fujiwara: "Design for Two-Pattern Testability of Controller-Data Path Circuits"Technical Report of IEICE(FTS2001). 101・658. 61-67 (2002)
Md.Altaf-Ul-Amin, Satoshi Ohtake, Hideo Fujiwara: "Design for Two-Pattern Testability of Controller-Data Path Circuits"Technical Report of IEICE(FTS2001). 101・658. 61-67 (2002)
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Md.Altaf-Ul-Amin、Satoshi Ohtake、Hideo Fujiwara：“控制器数据路径电路的两种模式可测试性设计”IEICE 技术报告(FTS2001) 61-67 (2002)。
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