T. Sakurai: "SiC/SiO_2 interface states observed by x-ray photolectron spectroscopy measurements under bias"Appl. Phys. Lett.. 86. 96 (2001)
T. Sakurai: "SiC/SiO_2 interface states observed by x-ray photolectron spectroscopy measurements under bias"Appl. Phys. Lett.. 86. 96 (2001)
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T. Sakurai：“偏压下X射线光电子能谱测量观察到的SiC/SiO_2界面态”Appl。
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