Entanglement-assisted electron microscopy based on a flux qubit
Entanglement-assisted electron microscopy based on a flux qubit
复制标题
基于通量量子位的纠缠辅助电子显微镜
DOI：
10.1063/1.4865244
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发表时间：
2014
影响因子：
4
通讯作者：
Hiroshi Okamoto and Yukinori Nagatani
中科院分区：
文献类型：
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作者：
原 徹;田中啓一;前畑京介;満田和久;山崎典子;山中良浩;Hiroshi Okamoto;Hiroshi Okamoto;Hiroshi Okamoto and Yukinori Nagatani
