田渕,竹田 他: "実験室系のX線回析装置を使用したX線CTR測定による半導体ヘテロ構造界面評価" 電子情報通信学会技報. ED96-40. 69-74 (1996)
田渕,竹田 他: "実験室系のX線回析装置を使用したX線CTR測定による半導体ヘテロ構造界面評価" 電子情報通信学会技報. ED96-40. 69-74 (1996)
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Tabuchi、Takeda 等人：“使用基于实验室的 X 射线衍射装置通过 X 射线 CTR 测量评估半导体异质结构界面”IEICE 技术报告 ED96-40 (1996)。
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