M.Suhara, M.Shibamiya, T.Okumura: "Criterion of Electron Concentration Profiling in Semiconductors by using Kelvin Probe Force Microscopy"The AIUB Journal of Science and Engineering (AJSE). Vol.1, No.1. 41-43 (2002)
M.Suhara, M.Shibamiya, T.Okumura: "Criterion of Electron Concentration Profiling in Semiconductors by using Kelvin Probe Force Microscopy"The AIUB Journal of Science and Engineering (AJSE). Vol.1, No.1. 41-43 (2002)
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M.Suhara、M.Shibamiya、T.Okumura：“使用开尔文探针力显微镜进行半导体电子浓度分析的标准”AIUB 科学与工程杂志 (AJSE)。
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