SOI pixel検出器を用いた電子線飛跡再構成実験
SOI pixel検出器を用いた電子線飛跡再構成実験
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使用 SOI 像素探测器进行电子轨迹重建实验
DOI：
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发表时间：
2011
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
葛山浩教
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y.Kanai;R.S.Deacon;A.Oiwa;K.Yoshida;K.Shibata;K.Hirakawa;S.Tarucha;T. Inoue;M.Harada;葛山浩教
