Distance measurement to multiple reflection points using intensity correlation signal produced by two-photon absorption process in Si-APD
Distance measurement to multiple reflection points using intensity correlation signal produced by two-photon absorption process in Si-APD
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利用 Si-APD 中双光子吸收过程产生的强度相关信号测量多个反射点的距离
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yosuke Tanak
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Itsuki Saito;Yosuke Tanak
